Bài giảng Nhập môn mạch số - Chương 6, Phần 1: Mạch tuần tự: Chốt và Flip-flop
Phân biệt mạch tổ hợp và tuần tự
MẠCH TỔ HỢP
- Ngõ ra sẽ thay đổi lập tức khi ngõ vào thay đổi
MẠCH TUẦN TỰ
- Ngõ ra sẽ thay đổi phụ thuộc vào ngõ vào và trạng thái trước đó.
- Mạch có tính chất nhớ
Loại bỏ những hạn chế trong chốt S-R khi
S và R chuyển từ 1 xuống 0 đồng thời
Ngõ vào điều khiển C giống với ngõ vào cho phép
(enable)
Khi C tích cực, Q = D chốt mở/trong suốt
(transparent latch)
C không tích cực, Q giữ giá trị trước đó
chốt đóng (close latch)
Bạn đang xem 20 trang mẫu của tài liệu "Bài giảng Nhập môn mạch số - Chương 6, Phần 1: Mạch tuần tự: Chốt và Flip-flop", để tải tài liệu gốc về máy hãy click vào nút Download ở trên
Tóm tắt nội dung tài liệu: Bài giảng Nhập môn mạch số - Chương 6, Phần 1: Mạch tuần tự: Chốt và Flip-flop
![Bài giảng Nhập môn mạch số - Chương 6, Phần 1: Mạch tuần tự: Chốt và Flip-flop Bài giảng Nhập môn mạch số - Chương 6, Phần 1: Mạch tuần tự: Chốt và Flip-flop](https://s1.tailieubachkhoa.net/rl6k7x3q9zfh00j8/thumb/2021/11/25/bai-giang-nhap-mon-mach-so-chuong-6-phan-1-mach-tuan-tu-chot_xmyvlX72RJ.jpg)
CHƯƠNG 6 – PHẦN 1 NHẬP MÔN MẠCH SỐ Mạch tuần tự: Chốt và Flip-flop (Sequential circuit: Latches and Flip-flop) Tổng quan Các hệ thống Số ngày nay đều gồm có hai thành phần: mạch tổ hợp (chương 5) để thực hiện các chức năng logic và các thành phần có tính chất nhớ (memory element) để lưu giữ các trạng thái trong mạch. Chương này sẽ học về: Các thành phần có tính chất nhớ (Chốt, Flip-flop, thanh ghi,) Kết hợp các thành phần tổ hợp và thành phần tính chất nhớ để tạo nên các mạch tuần tự. Phân biệt mạch tổ hợp và tuần tự Mạch tổ hợp : : : : inputs outputs Mạch tổ hợp : : inputs outputs : : Memory MẠCH TỔ HỢP - Ngõ ra sẽ thay đổi lập tức khi ngõ vào thay đổi MẠCH TUẦN TỰ - Ngõ ra sẽ thay đổi phụ thuộc vào ngõ vào và trạng thái trước đó. - Mạch có tính chất nhớ Nội dung Chốt S-R (S-R latch) Chốt D Flip-flop D Flip-flop T Flip-flop S-R Flip-flop J-K Flip-flop Scan 1. Chốt S-R ( Set-Reset latch) Chốt S-R dùng cổng NOR Mạch logic Bảng sự thật Ký hiệu Ký hiệu Ký hiệu sai Ngõ vào thông thường S và R chuyển từ mức 1 xuống mức 0 đồng thời không xác định ngõ ra Chốt S-R dùng cổng NOR (tt) Bảng sự thật Mạch logic Chốt S-R dùng cổng NAND Mạch logic Ký hiệu Bảng sự thật Chốt S-R với ngõ vào cho phép Mạch logic Bảng sự thật Ký hiệu SR=11, C:1 0 Chốt S-R với ngõ vào cho phép (tt) Hoạt động của chốt S-R với trường hợp ngõ ra không xác định 2. Chốt D (Data latch) Chốt D Mạch logic Bảng sự thật Ký hiệu Loại bỏ những hạn chế trong chốt S-R khi S và R chuyển từ 1 xuống 0 đồng thời Ngõ vào điều khiển C giống với ngõ vào cho phép (enable) Khi C tích cực , Q = D chốt mở/trong suốt (transparent latch) C không tích cực , Q giữ giá trị trước đó chốt đóng (close latch) Chốt D (tt) Hoạt động của chốt D Bảng sự thật 3. Flip-flop D (Data) Flip-flop D(FF-D) kích cạnh lên (Positive-edge-triggered D flip-flop) Một FF-D kích cạnh lên bao gồm một cặp chốt D kết nối sao cho dữ liệu truyền từ ngõ vào D đến ngõ ra Q mỗi khi có cạnh lên của xung Clock (CLK) Chốt D đầu tiên gọi là Chủ (master), hoạt động tại mức 0 của ngõ vào xung CLK Chốt D thứ hai gọi là Tớ (slave), hoạt động tại mức 1 của ngõ vào xung CLK Mạch logic Ký hiệu Bảng sự thật Hoạt động của FF-D kích cạnh lên Bảng sự thật FF-D kích cạnh lên (Positive-edge-triggered D flip-flop) FF- D kích cạnh xuống (Negative-edge-triggered D flip-flop) Một FF-D kích cạnh xuống thiết kế giống với FF-D kích cạnh lên, nhưng đảo ngõ vào xung Clock của 2 chốt D Mạch logic Ký hiệu Bảng sự thật FF-D với ngõ vào điều khiển Một chức năng quan trọng của FF-D là khả năng lưu giữ (store) dữ liệu sau cùng hơn là nạp vào (load) dữ liệu mới tại cạnh của xung Clock Để thực hiện được chức năng trên, ta thêm vào ngõ vào cho phép (enable input) của mỗi FF, thường ký hiệu là EN hoặc CE (chip enable) Mạch logic Ký hiệu Bảng sự thật FF-D với ngõ vào bất đồng bộ (D-FF with asynchronous inputs) Các ngõ vào bất đồng bộ (Asynchronous inputs) thường được sử dụng để ép ngõ ra Q của FF-D đến một giá trị mong muốn mà không phụ thuộc ngõ vào D và xung CLK Những ngõ vào này thường ký hiệu PR (preset) và CLR (clear) PR và CLR thường được dùng để khởi tạo giá trị ban đầu cho các FF hoặc phục vụ cho mục đích kiểm tra hoạt động của mạch. Mạch logic Ký hiệu Bảng sự thật 4. Flip-lop T(Toggle) Flip-flop T(FF-T) Ký hiệu Hoạt động của FF-T tích cực cạnh lên của T FF-T được thiết kế từ FF-D Ngõ ra Q hoặc QN của FF-T sẽ đảo trạng thái mỗi khi có cạnh lên của xung T Ngõ ra Q có tần số bằng ½ tần số của ngõ vào T FF-T thường được sử dụng trong các bộ đếm hoặc bộ chia tần số FF-T với ngõ vào cho phép Ký hiệu Hoạt động của FF-T tích cực cạnh lên của T và ngõ vào cho phép EN tích cực mức cao FF-T với ngõ vào cho phép EN được thiết kế từ FF-D Flip-flop thay đổi trạng thái tại cạnh lên của xung T chỉ khi ngõ vào cho phép EN (enable) tích cực. FF-T với ngõ vào điều khiển và xung Clock Ký hiệu Bảng sự thật Hoạt động của FF-T tích cực cạnh lên của xung Clock Flip-flop thay đổi trạng thái tại cạnh lên của xung Clock (CLK) chỉ khi ngõ vào EN và T tích cực. 5. Flip-flop S_R(Set_Reset) FF-S_R kích cạnh lên ( Positive-edge-triggered S_R flip-flop ) Ký hiệu Hoạt động của FF-S_R kích cạnh lên Bảng sự thật FF-S_R kích cạnh lên được thiết kế từ FF-D kích cạnh lên 6. Flip-Flop J-K FF-J_K kích cạnh lên (Edge-triggered J_K flip-flop) Ký hiệu FF-J_K kích cạnh lên được thiết kế từ FF-D kích cạnh lên Bảng sự thật Hoạt động của FF-J_K kích cạnh lên FF-JK với ngõ vào bất đồng bộ Ký hiệu Bảng sự thật 7. Flip-Flop Scan F lip-flop Scan(FF-Scan) Ký hiệu FF-D kích cạnh lên có chế độ Scan Bảng sự thật Chế độ bình thường Chế độ kiểm tra FF-Scan (tt) Một chuỗi 4 FFs hoạt động trong chế độ Scan Một tính năng quan trọng của các FF được chế tạo ở mức ASIC là khả năng Scan (khả năng kiểm tra) Các ngõ vào phụ TI, TE, TO được kết nối đến các FF theo một chuỗi Scan để phục vụ cho mục đích kiểm tra FF-Scan (tt) Một chuỗi 4 FFs hoạt động trong chế độ Scan Trong chế độ kiểm tra (testing mode), một chuỗi dữ liệu kiểm tra (test pattern) được đưa vào các FF thay thế cho chuỗi dữ liệu thông thường Sau khi các test pattern được đưa vào các FF, các FF sẽ quay trở lại chế độ hoạt động bình thường (normal mode) Sau một hay nhiều cạnh lên của xung Clock, các FF quay lại chế độ kiểm tra và kết quả kiểm tra được xuất ra ngoài tại ngõ ra của các FF Thảo luận?
File đính kèm:
bai_giang_nhap_mon_mach_so_chuong_6_phan_1_mach_tuan_tu_chot.pptx